X射线三维显微镜(高分辨率CT),利用x射线*的穿透能力,可以在不破坏样品的情况下,获得高精度三维图像,显示样品内部详尽的三维信息,并进行结构、密度的定量分析。该技术可谓当前三维成像技术中非常有效、非常可靠的手段,通过高分辨率x射线三维成像系统,还可以获得样品微观结构的数字化模型,可用于后续相关的数值模拟等研究工作。
三维重构成像x射线显微镜(高分辨率CT),即Micro /Nano CT (Computed Tomography)——计算机断层扫描,其原理与临床CT/工业CT相同,Micro/Nano 表明其分辨率可达到微米/亚微米级别。
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